សូមអរគុណសម្រាប់ការទស្សនា Nature.com ។អ្នកកំពុងប្រើកំណែកម្មវិធីរុករកតាមអ៊ីនធឺណិតដែលមានការគាំទ្រ CSS មានកំណត់។សម្រាប់បទពិសោធន៍ដ៏ល្អបំផុត យើងសូមណែនាំឱ្យអ្នកប្រើកម្មវិធីរុករកតាមអ៊ីនធឺណិតដែលបានអាប់ដេត (ឬបិទមុខងារភាពឆបគ្នានៅក្នុង Internet Explorer)។លើសពីនេះទៀត ដើម្បីធានាបាននូវការគាំទ្រជាបន្តបន្ទាប់ យើងបង្ហាញគេហទំព័រដោយគ្មានរចនាប័ទ្ម និង JavaScript។
បង្ហាញរង្វង់នៃស្លាយបីក្នុងពេលតែមួយ។ប្រើប៊ូតុងមុន និងបន្ទាប់ ដើម្បីផ្លាស់ទីតាមស្លាយបីក្នុងពេលតែមួយ ឬប្រើប៊ូតុងគ្រាប់រំកិលនៅចុងបញ្ចប់ ដើម្បីផ្លាស់ទីតាមស្លាយបីក្នុងពេលតែមួយ។
ការជ្រៀតជ្រែកឡាស៊ែរដោយផ្ទាល់ (DLIP) រួមបញ្ចូលគ្នាជាមួយរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃតាមកាលកំណត់ដោយឡាស៊ែរ (LIPSS) អនុញ្ញាតឱ្យបង្កើតផ្ទៃមុខងារសម្រាប់សម្ភារៈផ្សេងៗ។ដំណើរការនៃដំណើរការជាធម្មតាត្រូវបានកើនឡើងដោយប្រើថាមពលឡាស៊ែរមធ្យមខ្ពស់ជាង។ទោះជាយ៉ាងណាក៏ដោយនេះនាំឱ្យមានការប្រមូលផ្តុំកំដៅដែលប៉ះពាល់ដល់ភាពរដុបនិងរូបរាងនៃលំនាំនៃផ្ទៃលទ្ធផល។ដូច្នេះ ចាំបាច់ត្រូវសិក្សាលម្អិតអំពីឥទ្ធិពលនៃសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមលើរូបសណ្ឋាននៃធាតុប្រឌិត។នៅក្នុងការសិក្សានេះ ផ្ទៃដែកមានលំនាំតាមលំនាំ ps-DLIP នៅ 532 nm ។ដើម្បីស៊ើបអង្កេតឥទ្ធិពលនៃសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមនៅលើសណ្ឋានដីលទ្ធផល បន្ទះកំដៅមួយត្រូវបានប្រើដើម្បីគ្រប់គ្រងសីតុណ្ហភាព។កំដៅដល់ 250 \(^{\circ }\)С បាននាំឱ្យមានការថយចុះគួរឱ្យកត់សម្គាល់នៅក្នុងជម្រៅនៃរចនាសម្ព័ន្ធដែលបានបង្កើតឡើងពី 2.33 ទៅ 1.06 µm ។ការថយចុះនេះត្រូវបានផ្សារភ្ជាប់ជាមួយនឹងរូបរាងនៃប្រភេទ LIPSS ផ្សេងៗគ្នា អាស្រ័យលើការតំរង់ទិសនៃគ្រាប់ធញ្ញជាតិស្រទាប់ខាងក្រោម និងការកត់សុីលើផ្ទៃដែលបណ្តាលមកពីឡាស៊ែរ។ការសិក្សានេះបង្ហាញពីឥទ្ធិពលខ្លាំងនៃសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោម ដែលត្រូវបានរំពឹងទុកផងដែរនៅពេលដែលការព្យាបាលលើផ្ទៃត្រូវបានអនុវត្តនៅថាមពលឡាស៊ែរជាមធ្យមខ្ពស់ដើម្បីបង្កើតឥទ្ធិពលប្រមូលផ្តុំកំដៅ។
វិធីសាស្រ្តនៃការព្យាបាលលើផ្ទៃដោយផ្អែកលើការ irradiation ឡាស៊ែរជីពចរ ultrashort គឺនៅជួរមុខនៃវិទ្យាសាស្រ្ត និងឧស្សាហកម្មដោយសារតែសមត្ថភាពរបស់ពួកគេក្នុងការធ្វើឱ្យប្រសើរឡើងនូវលក្ខណៈសម្បត្តិផ្ទៃនៃសម្ភារៈពាក់ព័ន្ធសំខាន់បំផុត1.ជាពិសេស មុខងារផ្ទៃផ្ទាល់ខ្លួនដែលបណ្ដាលមកពីឡាស៊ែរគឺទំនើបបំផុតនៅទូទាំងវិស័យឧស្សាហកម្មដ៏ធំទូលាយ និងការប្រើសេណារីយ៉ូ 1,2,3។ឧទាហរណ៍ Vercillo et al ។លក្ខណៈសម្បត្តិប្រឆាំងនឹងការកកត្រូវបានបង្ហាញនៅលើយ៉ាន់ស្ព័រទីតានីញ៉ូមសម្រាប់កម្មវិធីលំហអាកាសដោយផ្អែកលើ superhydrophobicity ដែលបណ្តាលមកពីឡាស៊ែរ។Epperlein et al បានរាយការណ៍ថាលក្ខណៈពិសេស nanosized ដែលផលិតដោយរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃឡាស៊ែរអាចមានឥទ្ធិពលលើការលូតលាស់របស់ biofilm ឬការរារាំងលើគំរូដែក 5.លើសពីនេះទៀត Guai et al ។ក៏ធ្វើឱ្យប្រសើរឡើងនូវលក្ខណៈសម្បត្តិអុបទិកនៃកោសិកាពន្លឺព្រះអាទិត្យសរីរាង្គ។6 ដូច្នេះរចនាសម្ព័ន្ធឡាស៊ែរអនុញ្ញាតឱ្យផលិតធាតុរចនាសម្ព័ន្ធដែលមានគុណភាពបង្ហាញខ្ពស់ដោយការ ablation គ្រប់គ្រងនៃសម្ភារៈផ្ទៃ1.
បច្ចេកទេសរចនាសម្ព័ន្ធឡាស៊ែរដែលសមរម្យសម្រាប់ផលិតរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃតាមកាលកំណត់គឺការជ្រៀតជ្រែកឡាស៊ែរដោយផ្ទាល់ (DLIP) ។DLIP គឺផ្អែកលើការជ្រៀតជ្រែកនៅជិតផ្ទៃនៃកាំរស្មីឡាស៊ែរពីរ ឬច្រើនដើម្បីបង្កើតផ្ទៃដែលមានលំនាំជាមួយនឹងលក្ខណៈនៅក្នុងជួរមីក្រូម៉ែត្រ និងណាណូម៉ែត្រ។ដោយអាស្រ័យលើចំនួន និងបន្ទាត់រាងប៉ូលនៃធ្នឹមឡាស៊ែរ DLIP អាចរចនា និងបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃសណ្ឋានដីជាច្រើន។វិធីសាស្រ្តដ៏ជោគជ័យមួយគឺការបញ្ចូលគ្នានូវរចនាសម្ព័ន្ធ DLIP ជាមួយនឹងរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃតាមកាលកំណត់ដោយឡាស៊ែរ (LIPSS) ដើម្បីបង្កើតសណ្ឋានដីជាមួយនឹងឋានានុក្រមរចនាសម្ព័ន្ធស្មុគស្មាញ 8,9,10,11,12។នៅក្នុងធម្មជាតិ ឋានានុក្រមទាំងនេះត្រូវបានបង្ហាញថាផ្តល់នូវដំណើរការល្អជាងម៉ូដែលខ្នាតតែមួយ 13 ។
មុខងារ LIPSS គឺជាកម្មវត្ថុនៃដំណើរការពង្រីកដោយខ្លួនឯង (មតិស្ថាបនាវិជ្ជមាន) ដោយផ្អែកលើការបង្កើនម៉ូឌុលនៅជិតផ្ទៃនៃការបែងចែកអាំងតង់ស៊ីតេវិទ្យុសកម្ម។នេះគឺដោយសារតែការកើនឡើងនៃ nanoroughness ដោយសារតែចំនួននៃឡាស៊ែរដែលបានអនុវត្តកើនឡើង 14, 15, 16 ។ ម៉ូឌុលកើតឡើងជាចម្បងដោយសារតែការជ្រៀតជ្រែកនៃរលកដែលបញ្ចេញជាមួយវាលអេឡិចត្រូ 15,17,18,19,20,21 នៃចំណាំងបែរ និង សមាសធាតុរលកដែលខ្ចាត់ខ្ចាយ ឬប្លាស្មាផ្ទៃ។ការបង្កើត LIPSS ក៏រងផលប៉ះពាល់ផងដែរដោយពេលវេលានៃជីពចរ22,23។ជាពិសេស ថាមពលឡាស៊ែរមធ្យមកម្រិតខ្ពស់គឺមិនអាចខ្វះបានសម្រាប់ការព្យាបាលលើផ្ទៃដែលមានផលិតភាពខ្ពស់។នេះជាធម្មតាតម្រូវឱ្យមានការប្រើប្រាស់អត្រាពាក្យដដែលៗខ្ពស់ពោលគឺនៅក្នុងជួរ MHz ។អាស្រ័យហេតុនេះ ចម្ងាយពេលវេលារវាងជីពចរឡាស៊ែរគឺខ្លីជាង ដែលនាំឱ្យប៉ះពាល់ដល់ការប្រមូលផ្តុំកំដៅ 23, 24, 25, 26។ ឥទ្ធិពលនេះនាំឱ្យមានការកើនឡើងនៃសីតុណ្ហភាពលើផ្ទៃទាំងមូល ដែលអាចជះឥទ្ធិពលយ៉ាងខ្លាំងដល់យន្តការបង្កើតលំនាំកំឡុងពេលឡាស៊ែរ។
នៅក្នុងការងារពីមុន Rudenko et al ។និង Tzibidis et al ។យន្តការសម្រាប់ការបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធ convective ត្រូវបានពិភាក្សាដែលគួរតែកាន់តែមានសារៈសំខាន់នៅពេលដែលការប្រមូលផ្តុំកំដៅកើនឡើង 19,27 ។លើសពីនេះទៀត Bauer et al ។កែតម្រូវបរិមាណសំខាន់ៗនៃការប្រមូលផ្តុំកំដៅជាមួយនឹងរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃមីក្រូ។ទោះបីជាដំណើរការបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធដែលជំរុញដោយកម្ដៅនេះក៏ដោយ ជាទូទៅគេជឿថាផលិតភាពនៃដំណើរការអាចត្រូវបានធ្វើឱ្យប្រសើរឡើងដោយគ្រាន់តែបង្កើនអត្រាពាក្យដដែលៗ 28 ។ទោះបីជានេះ, នៅក្នុងវេន, មិនអាចសម្រេចបានដោយគ្មានការកើនឡើងគួរឱ្យកត់សម្គាល់នៅក្នុងការផ្ទុកកំដៅ។ដូច្នេះហើយ យុទ្ធសាស្ត្រដំណើរការដែលផ្តល់នូវកម្រិតពហុកម្រិតអាចមិនអាចចល័តបានទៅនឹងអត្រាពាក្យដដែលៗខ្ពស់ជាងដោយមិនមានការផ្លាស់ប្តូរ kinetics ដំណើរការ និងការបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធ9,12។ក្នុងន័យនេះ វាមានសារៈសំខាន់ខ្លាំងណាស់ក្នុងការស៊ើបអង្កេតពីរបៀបដែលសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមប៉ះពាល់ដល់ដំណើរការបង្កើត DLIP ជាពិសេសនៅពេលបង្កើតទម្រង់ស្រទាប់លើផ្ទៃ ដោយសារការបង្កើត LIPSS ក្នុងពេលដំណាលគ្នា។
គោលបំណងនៃការសិក្សានេះគឺដើម្បីវាយតម្លៃឥទ្ធិពលនៃសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមលើលទ្ធផលនៃសណ្ឋានដីក្នុងអំឡុងពេលដំណើរការ DLIP នៃដែកអ៊ីណុកដោយប្រើ ps pulses ។កំឡុងពេលដំណើរការឡាស៊ែរ សីតុណ្ហភាពនៃស្រទាប់ខាងក្រោមគំរូត្រូវបាននាំទៅដល់ 250 \(^\circ\)C ដោយប្រើបន្ទះកំដៅ។រចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃលទ្ធផលត្រូវបានកំណត់លក្ខណៈដោយប្រើមីក្រូទស្សន៍បង្រួម ការស្កែនមីក្រូទស្សន៍អេឡិចត្រុង និងវិសាលគមកាំរស្មីអ៊ិចដែលចែកចាយថាមពល។
នៅក្នុងស៊េរីដំបូងនៃការពិសោធន៍ ស្រទាប់ខាងក្រោមដែកត្រូវបានដំណើរការដោយប្រើការកំណត់រចនាសម្ព័ន្ធ DLIP ពីរធ្នឹមដែលមានរយៈពេល spatial 4.5 µm និងសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមនៃ \(T_{\mathrm {s}}\) 21 \(^{\circ }\)C ដែលបន្ទាប់មកនេះត្រូវបានគេហៅថាជា "unheated» ផ្ទៃ។ក្នុងករណីនេះ ជីពចរត្រួតលើគ្នា \(o_{\mathrm {p}}\) គឺជាចម្ងាយរវាងជីពចរពីរជាមុខងារនៃទំហំកន្លែង។វាប្រែប្រួលពី 99.0% (100 pulses per position) ដល់ 99.67% (300 pulses per position)។ក្នុងគ្រប់ករណីទាំងអស់ ដង់ស៊ីតេថាមពលកំពូល \(\Phi _\mathrm {p}\) = 0.5 J/cm\(^2\) (សម្រាប់សមមូល Gaussian ដោយគ្មានការជ្រៀតជ្រែក) និងប្រេកង់ពាក្យដដែលៗ f = 200 kHz ត្រូវបានប្រើប្រាស់។ទិសដៅនៃបន្ទាត់រាងប៉ូលនៃធ្នឹមឡាស៊ែរគឺស្របទៅនឹងចលនានៃតារាងទីតាំង (រូបភាពទី 1a)) ដែលស្របទៅនឹងទិសដៅនៃធរណីមាត្រលីនេអ៊ែរដែលបង្កើតឡើងដោយលំនាំការជ្រៀតជ្រែកនៃធ្នឹមពីរ។រូបភាពតំណាងនៃរចនាសម្ព័ន្ធដែលទទួលបានដោយប្រើមីក្រូទស្សន៍អេឡិចត្រុងស្កែន (SEM) ត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងរូបភព។1a–c។ដើម្បីគាំទ្រការវិភាគនៃរូបភាព SEM ក្នុងលក្ខខណ្ឌនៃសណ្ឋានដី ការបំប្លែង Fourier (FFTs ដែលបង្ហាញក្នុងផ្នែកងងឹត) ត្រូវបានអនុវត្តលើរចនាសម្ព័ន្ធដែលកំពុងត្រូវបានវាយតម្លៃ។ក្នុងគ្រប់ករណីទាំងអស់ លទ្ធផលនៃធរណីមាត្រ DLIP អាចមើលឃើញជាមួយនឹងចន្លោះ 4.5 µm ។
សម្រាប់ករណី \(o_{\mathrm {p}}\) = 99.0% នៅក្នុងតំបន់ងងឹតនៃរូបភាព។1a ដែលត្រូវគ្នាទៅនឹងទីតាំងនៃការជ្រៀតជ្រែកអតិបរិមា មនុស្សម្នាក់អាចសង្កេតមើលចង្អូរដែលមានរចនាសម្ព័ន្ធប៉ារ៉ាឡែលតូចជាង។ពួកវាឆ្លាស់គ្នាជាមួយនឹងក្រុមភ្លឺជាងដែលគ្របដណ្ដប់ដោយសណ្ឋានដីដូច nanoparticle ។ដោយសារតែរចនាសម្ព័ន្ធប៉ារ៉ាឡែលរវាងចង្អូរហាក់ដូចជាកាត់កែងទៅនឹងបន្ទាត់រាងប៉ូលនៃកាំរស្មីឡាស៊ែរ ហើយមានកំឡុងពេល \(\Lambda _{\ mathrm {LSFL-I}}\) 418\(\pm 65\) nm, បន្តិច តិចជាងរលកនៃឡាស៊ែរ \(\lambda\) (532 nm) អាចត្រូវបានគេហៅថា LIPSS ដែលមានប្រេកង់ទាប (LSFL-I) 15,18 ។LSFL-I ផលិតនូវអ្វីដែលគេហៅថា s-type signal នៅក្នុង FFT, "s" scattering15,20។ដូច្នេះ សញ្ញាគឺកាត់កែងទៅនឹងធាតុបញ្ឈរកណ្តាលដ៏រឹងមាំ ដែលនៅក្នុងវេនត្រូវបានបង្កើតដោយរចនាសម្ព័ន្ធ DLIP (\(\Lambda _{\mathrm {DLIP}}\) \(\approx\) 4.5 µm) ។សញ្ញាដែលបង្កើតដោយរចនាសម្ព័ន្ធលីនេអ៊ែរនៃលំនាំ DLIP នៅក្នុងរូបភាព FFT ត្រូវបានគេហៅថា "ប្រភេទ DLIP" ។
រូបភាព SEM នៃរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃដែលបានបង្កើតដោយប្រើ DLIP ។ដង់ស៊ីតេថាមពលកំពូលគឺ \(\Phi _\mathrm {p}\) = 0.5 J/cm\(^2\) (សម្រាប់សមមូលគ្មានសំលេងរំខាន Gaussian) និងអត្រាពាក្យដដែលៗ f = 200 kHz ។រូបភាពបង្ហាញពីសីតុណ្ហភាពគំរូ បន្ទាត់រាងប៉ូល និងការត្រួតលើគ្នា។ចលនានៃដំណាក់កាលធ្វើមូលដ្ឋានីយកម្មត្រូវបានសម្គាល់ដោយសញ្ញាព្រួញខ្មៅនៅក្នុង (a)។ការបញ្ចូលពណ៌ខ្មៅបង្ហាញពី FFT ដែលត្រូវគ្នាដែលទទួលបានពីរូបភាព SEM 37.25\(\times\)37.25 µm (បង្ហាញរហូតដល់រលកវ៉ិចទ័រក្លាយជា \(\vec {k}\cdot (2\pi)^ {-1}\) = 200 nm)ប៉ារ៉ាម៉ែត្រដំណើរការត្រូវបានចង្អុលបង្ហាញនៅក្នុងតួលេខនីមួយៗ។
ក្រឡេកទៅមើលរូបភាពទី 1 បន្ថែមទៀត អ្នកអាចមើលឃើញថានៅពេលដែលការត្រួតស៊ីគ្នា \(o_{\mathrm {p}}\) កើនឡើង សញ្ញា sigmoid ត្រូវបានប្រមូលផ្តុំកាន់តែច្រើនឆ្ពោះទៅរកអ័ក្ស x នៃ FFT ។នៅសល់នៃ LSFL-I មាននិន្នាការស្របគ្នាជាង។លើសពីនេះ អាំងតង់ស៊ីតេដែលទាក់ទងនៃសញ្ញាប្រភេទ s បានថយចុះ ហើយអាំងតង់ស៊ីតេនៃសញ្ញាប្រភេទ DLIP កើនឡើង។នេះគឺដោយសារតែលេណដ្ឋានដែលបញ្ចេញសម្លេងកាន់តែខ្លាំងឡើងជាមួយនឹងការត្រួតស៊ីគ្នាកាន់តែច្រើន។ផងដែរ សញ្ញាអ័ក្ស x រវាងប្រភេទ s និងកណ្តាលត្រូវតែមកពីរចនាសម្ព័ន្ធដែលមានទិសដូចគ្នានឹង LSFL-I ប៉ុន្តែជាមួយនឹងរយៈពេលវែងជាង (\(\Lambda _\mathrm {b}\) \(\approx ) 1.4 ± 0.2 µm) ដូចបង្ហាញក្នុងរូប 1c)។ដូច្នេះវាត្រូវបានសន្មត់ថាការបង្កើតរបស់ពួកគេគឺជាគំរូនៃរណ្តៅនៅកណ្តាលនៃលេណដ្ឋាន។មុខងារថ្មីក៏លេចឡើងក្នុងជួរប្រេកង់ខ្ពស់ (រលកធំ) នៃ ordinate ។សញ្ញាចេញមកពីរលកស្របគ្នានៅលើជម្រាលនៃលេណដ្ឋានដែលភាគច្រើនទំនងជាដោយសារតែការជ្រៀតជ្រែកនៃឧប្បត្តិហេតុនិងពន្លឺឆ្លុះបញ្ចាំងទៅមុខនៅលើជម្រាល 9,14 ។នៅក្នុងខាងក្រោមនេះ រលកទាំងនេះត្រូវបានតំណាងដោយ LSFL \ (_ \ mathrm {edge} \) និងសញ្ញារបស់ពួកគេ – តាមប្រភេទ -s \ (_ {\ mathrm {p)) \) ។
នៅក្នុងការពិសោធន៍បន្ទាប់ សីតុណ្ហភាពនៃគំរូត្រូវបាននាំទៅដល់ 250 °C នៅក្រោមផ្ទៃដែលគេហៅថា "កំដៅ" ។ការរៀបចំរចនាសម្ព័ន្ធត្រូវបានអនុវត្តតាមយុទ្ធសាស្ត្រកែច្នៃដូចគ្នានឹងការពិសោធន៍ដែលបានរៀបរាប់នៅក្នុងផ្នែកមុន (រូបភាព 1a–1c)។រូបភាព SEM បង្ហាញពីសណ្ឋានដីលទ្ធផលដូចបានបង្ហាញក្នុងរូប 1d–f ។កំដៅគំរូដល់ 250 C នាំឱ្យមានការកើនឡើងនៃរូបរាងនៃ LSFL ដែលជាទិសដៅស្របទៅនឹងបន្ទាត់រាងប៉ូលឡាស៊ែរ។រចនាសម្ព័ន្ធទាំងនេះអាចត្រូវបានកំណត់លក្ខណៈជា LSFL-II និងមានរយៈពេលលំហ \(\Lambda _\mathrm {LSFL-II}\) នៃ 247 ± 35 nm ។សញ្ញា LSFL-II មិនត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុង FFT ដោយសារតែប្រេកង់របៀបខ្ពស់។នៅពេលដែល \(o_{\mathrm {p}}\) បានកើនឡើងពី 99.0 ដល់ 99.67\(\%\) (រូបភាព 1d–e) ទទឹងនៃតំបន់ក្រុមភ្លឺបានកើនឡើង ដែលនាំទៅដល់ការលេចចេញនូវសញ្ញា DLIP សម្រាប់ច្រើនជាងប្រេកង់ខ្ពស់។លេខរលក (ប្រេកង់ទាប) ហើយដូច្នេះប្តូរទៅកណ្តាលនៃ FFT ។ជួរនៃរណ្តៅក្នុងរូបទី 1d អាចជាចំណុចមុនគេនៃរណ្តៅដែលគេហៅថា ដែលត្រូវបានបង្កើតឡើងកាត់កែងទៅនឹង LSFL-I22,27។លើសពីនេះ LSFL-II ហាក់ដូចជាខ្លីជាង និងមានរាងមិនទៀងទាត់។ចំណាំផងដែរថាទំហំមធ្យមនៃក្រុមភ្លឺដែលមានរូបវិទ្យា nanograin គឺតូចជាងក្នុងករណីនេះ។លើសពីនេះទៀតការចែកចាយទំហំនៃភាគល្អិតណាណូទាំងនេះបានប្រែទៅជាមិនសូវបែកខ្ញែក (ឬនាំឱ្យមានការប្រមូលផ្តុំភាគល្អិតតិចជាង) ជាងដោយគ្មានកំដៅ។តាមគុណភាព នេះអាចត្រូវបានវាយតម្លៃដោយការប្រៀបធៀបតួលេខ 1a, d ឬ b, e រៀងគ្នា។
នៅពេលដែលការត្រួតស៊ីគ្នា \(o_{\mathrm {p}}\) បានកើនឡើងបន្ថែមទៀតដល់ 99.67% (រូបភាពទី 1f) ស្ថានភាពសណ្ឋានដីដាច់ដោយឡែកមួយបានលេចចេញជាបណ្តើរៗ ដោយសារមានរណ្ដៅជាក់ស្តែងកាន់តែខ្លាំងឡើង។ទោះជាយ៉ាងណាក៏ដោយ ចង្អូរទាំងនេះហាក់ដូចជាមិនសូវមានសណ្តាប់ធ្នាប់ និងជ្រៅជាងក្នុងរូបភាពទី 1 គ។កម្រិតពណ៌ទាបរវាងផ្ទៃពន្លឺ និងងងឹតនៃរូបភាពបង្ហាញគុណភាព។លទ្ធផលទាំងនេះត្រូវបានគាំទ្របន្ថែមទៀតដោយសញ្ញាខ្សោយជាង និងខ្ចាត់ខ្ចាយកាន់តែច្រើននៃការកំណត់ FFT នៅក្នុងរូបភាពទី 1f បើប្រៀបធៀបទៅនឹង FFT នៅលើ គ។striae តូចជាងក៏ត្រូវបានគេបង្ហាញឱ្យឃើញផងដែរនៅលើកំដៅនៅពេលប្រៀបធៀបរូបភាព 1b និង e ដែលក្រោយមកត្រូវបានបញ្ជាក់ដោយមីក្រូទស្សន៍បង្រួម។
បន្ថែមពីលើការពិសោធន៍ពីមុន បន្ទាត់រាងប៉ូលនៃកាំរស្មីឡាស៊ែរត្រូវបានបង្វិលដោយ 90 \(^{\circ}\) ដែលបណ្តាលឱ្យទិសដៅប៉ូល័រផ្លាស់ទីកាត់កែងទៅនឹងវេទិកាកំណត់ទីតាំង។នៅលើរូបភព។2a-c បង្ហាញពីដំណាក់កាលដំបូងនៃការបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធ \(o_{\mathrm {p}}\) = 99.0% in unheated (a), heated (b) និង heated 90\(^{\ circ }\) – Case ជាមួយនឹងការបង្វិលរាងប៉ូល (គ) ។ដើម្បីមើលឃើញរូបភាព nanotopography នៃរចនាសម្ព័ន្ធ តំបន់ដែលត្រូវបានសម្គាល់ដោយការ៉េពណ៌ត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងរូបភព។2d នៅលើមាត្រដ្ឋានពង្រីក។
រូបភាព SEM នៃរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃដែលបានបង្កើតដោយប្រើ DLIP ។ប៉ារ៉ាម៉ែត្រដំណើរការគឺដូចគ្នានឹងនៅក្នុង Fig.1 ។រូបភាពបង្ហាញពីសីតុណ្ហភាពគំរូ \(T_s\) បន្ទាត់រាងប៉ូល និងជីពចរត្រួតគ្នា \(o_\mathrm {p}\) ។ការបញ្ចូលពណ៌ខ្មៅម្តងទៀតបង្ហាញពីការផ្លាស់ប្តូរ Fourier ដែលត្រូវគ្នា។រូបភាពនៅក្នុង (d)-(i) គឺជាការពង្រីកនៃតំបន់ដែលបានសម្គាល់នៅក្នុង (a)-(c)។
ក្នុងករណីនេះ វាអាចត្រូវបានគេមើលឃើញថារចនាសម្ព័ន្ធនៅក្នុងតំបន់ងងឹតនៃរូបភាព 2b,c គឺមានភាពរសើបក្នុងបន្ទាត់រាងប៉ូល ដូច្នេះហើយត្រូវបានដាក់ស្លាកថា LSFL-II14, 20, 29, 30។ គួរកត់សម្គាល់ថាការតំរង់ទិសនៃ LSFL-I ក៏ត្រូវបានបង្វិលផងដែរ ( រូបភព 2g, i) ដែលអាចមើលឃើញពីការតំរង់ទិសនៃសញ្ញាប្រភេទ s នៅក្នុង FFT ដែលត្រូវគ្នា។កម្រិតបញ្ជូននៃរយៈពេល LSFL-I ហាក់ដូចជាធំជាងបើប្រៀបធៀបទៅនឹងរយៈពេល b ហើយជួររបស់វាត្រូវបានផ្លាស់ប្តូរឆ្ពោះទៅរករយៈពេលតូចជាងនៅក្នុងរូបភាព 2c ដូចដែលបានបង្ហាញដោយសញ្ញាប្រភេទ s ដែលរីករាលដាលជាង។ដូច្នេះរយៈពេល LSFL ខាងក្រោមអាចត្រូវបានគេសង្កេតឃើញនៅលើគំរូនៅសីតុណ្ហភាពកំដៅផ្សេងៗគ្នា៖ \(\Lambda _{\ mathrm {LSFL-I}}\) = 418\(\pm 65\) nm នៅ 21 ^{ \circ }\ )C (រូបទី 2a), \(\Lambda _{\mathrm {LSFL-I}}\) = 445\(~\pm\) 67 nm និង \(\Lambda _{\mathrm {LSFL-II }} \) = 247 ± 35 nm នៅ 250°C (រូបភាព 2b) សម្រាប់ s polarization ។ផ្ទុយទៅវិញ រយៈពេលនៃលំហនៃ p-polarization និង 250 \(^{\circ }\)C គឺស្មើនឹង \(\Lambda _{\mathrm {LSFL-I))\) = 390\(\pm 55\ ) nm និង \(\Lambda_{\mathrm{LSFL-II}}\) = 265±35 nm (រូបភាព 2c) ។
គួរកត់សម្គាល់ថាលទ្ធផលបង្ហាញថាគ្រាន់តែបង្កើនសីតុណ្ហភាពគំរូ morphology ផ្ទៃអាចផ្លាស់ប្តូររវាងចំណុចខ្លាំងពីរ រួមទាំង (i) ផ្ទៃដែលមានតែធាតុ LSFL-I និង (ii) តំបន់គ្របដណ្តប់ដោយ LSFL-II ។ដោយសារតែការបង្កើត LIPSS ប្រភេទពិសេសនេះលើផ្ទៃលោហៈត្រូវបានផ្សារភ្ជាប់ជាមួយនឹងស្រទាប់អុកស៊ីតលើផ្ទៃ ការវិភាគកាំរស្មី X (EDX) ត្រូវបានអនុវត្ត។តារាងទី 1 សង្ខេបលទ្ធផលដែលទទួលបាន។ការកំណត់នីមួយៗត្រូវបានអនុវត្តដោយមធ្យមយ៉ាងហោចណាស់ចំនួនបួននៅកន្លែងផ្សេងគ្នាលើផ្ទៃនៃគំរូដែលបានដំណើរការ។ការវាស់វែងត្រូវបានអនុវត្តនៅសីតុណ្ហភាពគំរូផ្សេងគ្នា \(T_\mathrm{s}\) និងទីតាំងផ្សេងគ្នានៃផ្ទៃគំរូដែលមានតំបន់មិនមានរចនាសម្ព័ន្ធ ឬរចនាសម្ព័ន្ធ។ការវាស់វែងក៏មានព័ត៌មានអំពីស្រទាប់ដែលមិនមានអុកស៊ីតកម្មកាន់តែជ្រៅ ដែលស្ថិតនៅខាងក្រោមផ្ទៃរលាយដែលត្រូវបានព្យាបាល ប៉ុន្តែនៅក្នុងជម្រៅនៃការជ្រៀតចូលអេឡិចត្រុងនៃការវិភាគ EDX ។ទោះជាយ៉ាងណាក៏ដោយ វាគួរតែត្រូវបានកត់សម្គាល់ថា EDX ត្រូវបានកំណត់នៅក្នុងសមត្ថភាពរបស់វាក្នុងការកំណត់បរិមាណអុកស៊ីសែន ដូច្នេះតម្លៃទាំងនេះនៅទីនេះអាចផ្តល់តែការវាយតម្លៃគុណភាពប៉ុណ្ណោះ។
ផ្នែកដែលមិនបានព្យាបាលនៃសំណាកគំរូមិនបង្ហាញពីបរិមាណអុកស៊ីសែនសំខាន់ៗនៅសីតុណ្ហភាពប្រតិបត្តិការទាំងអស់។បន្ទាប់ពីការព្យាបាលដោយឡាស៊ែរ កម្រិតអុកស៊ីសែនបានកើនឡើងក្នុងគ្រប់ករណីទាំងអស់ 31។ភាពខុសគ្នានៃសមាសធាតុធាតុរវាងសំណាកដែលមិនបានព្យាបាលទាំងពីរគឺដូចការរំពឹងទុកសម្រាប់សំណាកដែកពាណិជ្ជកម្ម ហើយតម្លៃកាបូនខ្ពស់ជាងគួរឱ្យកត់សម្គាល់ត្រូវបានគេរកឃើញបើប្រៀបធៀបទៅនឹងសន្លឹកទិន្នន័យរបស់អ្នកផលិតសម្រាប់ដែកថែប AISI 304 ដោយសារការចម្លងរោគអ៊ីដ្រូកាបូន32។
មុននឹងពិភាក្សាអំពីហេតុផលដែលអាចកើតមានសម្រាប់ការថយចុះនៃជម្រៅ groove ablation និងការផ្លាស់ប្តូរពី LSFL-I ទៅ LSFL-II, power spectral density (PSD) និងទម្រង់កម្ពស់ត្រូវបានប្រើ។
(i) ដង់ស៊ីតេថាមពលធម្មតាពីរវិមាត្រ (Q2D-PSD) នៃផ្ទៃត្រូវបានបង្ហាញជារូបភាព SEM ក្នុងរូបភាពទី 1 និងទី 2។ 1 និង 2. ចាប់តាំងពី PSD ត្រូវបានធ្វើឱ្យមានលក្ខណៈធម្មតា ការថយចុះនៃសញ្ញាបូកគួរតែជា យល់ថាជាការកើនឡើងនៃផ្នែកថេរ (k \(\le\) 0.7 µm\(^{-1}\) មិនបានបង្ហាញ) ពោលគឺភាពរលោង។(ii) ទម្រង់កម្ពស់ផ្ទៃមធ្យមដែលត្រូវគ្នាសីតុណ្ហភាពគំរូ \(T_s\) ត្រួតលើគ្នា \(o_{\mathrm {p}}\) និងបន្ទាត់រាងប៉ូលឡាស៊ែរ E ទាក់ទងទៅនឹងការតំរង់ទិស \(\vec {v}\) នៃចលនាវេទិកាកំណត់ទីតាំងត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងឡូត៍ទាំងអស់។
ដើម្បីកំណត់បរិមាណនៃចំណាប់អារម្មណ៍នៃរូបភាព SEM វិសាលគមថាមពលធម្មតាជាមធ្យមត្រូវបានបង្កើតពីរូបភាព SEM យ៉ាងតិចបីសម្រាប់ប៉ារ៉ាម៉ែត្រនីមួយៗដែលបានកំណត់ដោយមធ្យមភាគទាំងអស់ (1D) ដង់ស៊ីតេថាមពលវិសាលគម (PSDs) ក្នុងទិស x ឬ y ។ក្រាហ្វដែលត្រូវគ្នាត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងរូបភាពទី 3i ដែលបង្ហាញពីការផ្លាស់ប្តូរប្រេកង់នៃសញ្ញា និងការរួមចំណែកទាក់ទងរបស់វាចំពោះវិសាលគម។
នៅលើរូបភព។3ia, c, e, កំពូល DLIP លូតលាស់នៅជិត \(k_{\mathrm {DLIP}}~=~2\pi\) (4.5 µm)\(^{-1}\) = 1.4 µm \ (^{- 1}\) ឬអាម៉ូនិកខ្ពស់ដែលត្រូវគ្នា នៅពេលដែលការត្រួតគ្នាកើនឡើង \(o_{\mathrm {p))\)។ការកើនឡើងនៃទំហំមូលដ្ឋានត្រូវបានផ្សារភ្ជាប់ជាមួយនឹងការអភិវឌ្ឍន៍កាន់តែខ្លាំងនៃរចនាសម្ព័ន្ធ LRIB ។ទំហំនៃអាម៉ូនិកខ្ពស់កើនឡើងជាមួយនឹងភាពចោតនៃជម្រាល។សម្រាប់មុខងារចតុកោណជាករណីកំណត់ ការប៉ាន់ស្មានត្រូវការចំនួនប្រេកង់ធំបំផុត។ដូច្នេះចំនុចកំពូលជុំវិញ 1.4 µm\(^{-1}\) នៅក្នុង PSD និងអាម៉ូនិកដែលត្រូវគ្នាអាចត្រូវបានប្រើជាប៉ារ៉ាម៉ែត្រគុណភាពសម្រាប់រូបរាងនៃចង្អូរ។
ផ្ទុយទៅវិញ ដូចដែលបានបង្ហាញក្នុងរូបទី 3(i)b,d,f, PSD នៃគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា បង្ហាញពីកំពូលខ្សោយ និងទូលំទូលាយជាមួយនឹងសញ្ញាតិចជាងនៅក្នុងអាម៉ូនិករៀងៗខ្លួន។លើសពីនេះទៀតនៅក្នុងរូបភព។3(i)f បង្ហាញថា សញ្ញាអាម៉ូនិកទីពីរ លើសពីសញ្ញាមូលដ្ឋាន។នេះឆ្លុះបញ្ចាំងពីរចនាសម្ព័ន្ធ DLIP មិនទៀងទាត់ និងមិនសូវច្បាស់នៃគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា (ប្រៀបធៀបនឹង \(T_s\) = 21\(^\circ\)C) ។លក្ខណៈពិសេសមួយទៀតគឺថានៅពេលដែលការត្រួតគ្នា \(o_{\mathrm {p}}\) កើនឡើង លទ្ធផលនៃសញ្ញា LSFL-I ផ្លាស់ប្តូរឆ្ពោះទៅរកលេខរលកតូចជាង (រយៈពេលវែងជាង)។នេះអាចត្រូវបានពន្យល់ដោយការកើនឡើងភាពចោតនៃគែមនៃរបៀប DLIP និងការកើនឡើងក្នុងតំបន់ដែលពាក់ព័ន្ធនៅក្នុងមុំនៃឧប្បត្តិហេតុ14,33។តាមនិន្នាការនេះ ការពង្រីកសញ្ញា LSFL-I ក៏អាចត្រូវបានពន្យល់ផងដែរ។បន្ថែមពីលើជម្រាលដ៏ចោត វាក៏មានផ្ទៃរាបស្មើនៅខាងក្រោម និងពីលើកំពូលនៃរចនាសម្ព័ន្ធ DLIP ដែលអនុញ្ញាតឱ្យមានចន្លោះពេល LSFL-I កាន់តែទូលំទូលាយ។សម្រាប់វត្ថុធាតុដែលស្រូបបានខ្ពស់ រយៈពេល LSFL-I ជាធម្មតាត្រូវបានគេប៉ាន់ស្មានថាជា៖
កន្លែងដែល \(\theta\) គឺជាមុំនៃឧប្បត្តិហេតុ ហើយអក្សររង s និង p សំដៅទៅលើបន្ទាត់រាងប៉ូលផ្សេងគ្នា33។
វាគួរតែត្រូវបានកត់សម្គាល់ថាយន្តហោះនៃឧប្បត្តិហេតុសម្រាប់ការដំឡើង DLIP ជាធម្មតាកាត់កែងទៅនឹងចលនានៃវេទិកាកំណត់ទីតាំងដូចបានបង្ហាញក្នុងរូបភាពទី 4 (សូមមើលផ្នែកសម្ភារៈ និងវិធីសាស្រ្ត)។ដូច្នេះ s-polarization ជាក្បួនគឺស្របទៅនឹងចលនានៃដំណាក់កាល ហើយ p-polarization គឺកាត់កែងទៅវា។នេះបើយោងតាមសមីការ។(1) សម្រាប់ s-polarization ការរីករាលដាល និងការផ្លាស់ប្តូរនៃសញ្ញា LSFL-I ឆ្ពោះទៅរកលេខរលកតូចៗត្រូវបានរំពឹងទុក។នេះគឺដោយសារតែការកើនឡើងនៃ \(\theta\) និងជួរមុំ \(\theta \pm \delta \theta\) នៅពេលដែលជម្រៅលេណដ្ឋានកើនឡើង។នេះអាចត្រូវបានគេមើលឃើញដោយការប្រៀបធៀបកំពូល LSFL-I នៅក្នុងរូបភាព 3ia,c,e ។
នេះបើយោងតាមលទ្ធផលដែលបានបង្ហាញនៅក្នុងរូបភព។1c, LSFL\(_\mathrm {edge}\) ក៏អាចមើលឃើញនៅក្នុង PSD ដែលត្រូវគ្នានៅក្នុងរូបភព។3 ឧ។នៅលើរូបភព។3ig,h បង្ហាញ PSD សម្រាប់ p-polarization ។ភាពខុសគ្នានៅក្នុងកំពូល DLIP គឺច្បាស់ជាងរវាងគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា និងមិនទាន់កំដៅ។ក្នុងករណីនេះ សញ្ញាពី LSFL-I ត្រួតលើគ្នាជាមួយនឹងអាម៉ូនិកខ្ពស់នៃកំពូល DLIP ដោយបន្ថែមទៅសញ្ញានៅជិតរលកពន្លឺ។
ដើម្បីពិភាក្សាអំពីលទ្ធផលកាន់តែលម្អិត នៅក្នុងរូបភាពទី 3ii បង្ហាញពីជម្រៅរចនាសម្ព័ន្ធ និងការត្រួតស៊ីគ្នារវាងជីពចរនៃការចែកចាយកម្ពស់លីនេអ៊ែរ DLIP នៅសីតុណ្ហភាពផ្សេងៗ។ទម្រង់កម្ពស់បញ្ឈរនៃផ្ទៃត្រូវបានទទួលដោយជាមធ្យមទម្រង់កម្ពស់បញ្ឈរបុគ្គលចំនួនដប់នៅជុំវិញកណ្តាលនៃរចនាសម្ព័ន្ធ DLIP ។សម្រាប់សីតុណ្ហភាពដែលបានអនុវត្តនីមួយៗ ជម្រៅនៃរចនាសម្ព័ន្ធកើនឡើងជាមួយនឹងការកើនឡើងនៃការត្រួតស៊ីគ្នានៃជីពចរ។ទម្រង់នៃគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថាបង្ហាញចង្អូរដែលមានតម្លៃជាមធ្យមពីកំពូលទៅកំពូល (pvp) នៃ 0.87 µm សម្រាប់ s-polarization និង 1.06 µm សម្រាប់ p-polarization ។ផ្ទុយទៅវិញ s-polarization និង p-polarization នៃគំរូ unheated បង្ហាញ pvp នៃ 1.75 µm និង 2.33 µm រៀងគ្នា។pvp ដែលត្រូវគ្នាត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងទម្រង់កម្ពស់នៅក្នុងរូបភព។3ii.ជាមធ្យម PvP នីមួយៗត្រូវបានគណនាដោយជាមធ្យមប្រាំបី PvPs តែមួយ។
លើសពីនេះទៀតនៅក្នុងរូបភព។3iig,h បង្ហាញការចែកចាយកម្ពស់ p-polarization ដែលកាត់កែងទៅនឹងប្រព័ន្ធកំណត់ទីតាំង និងចលនាចង្អូរ។ទិសដៅនៃ p-polarization មានឥទ្ធិពលវិជ្ជមានទៅលើជម្រៅនៃ groove ចាប់តាំងពីវាបណ្តាលឱ្យមាន pvp ខ្ពស់ជាងបន្តិចនៅ 2.33 µm បើប្រៀបធៀបទៅនឹង s-polarization នៅ 1.75 µm pvp ។នេះនៅក្នុងវេនត្រូវគ្នាទៅនឹង grooves និងចលនានៃប្រព័ន្ធវេទិកាទីតាំង។ឥទ្ធិពលនេះអាចបណ្តាលមកពីរចនាសម្ព័ន្ធតូចជាងនៅក្នុងករណីនៃ s-polarization បើប្រៀបធៀបទៅនឹងករណីនៃ p-polarization (សូមមើលរូបភាព 2f, h) ដែលនឹងត្រូវបានពិភាក្សាបន្ថែមទៀតនៅក្នុងផ្នែកបន្ទាប់។
គោលបំណងនៃការពិភាក្សាគឺដើម្បីពន្យល់ពីការថយចុះនៃជម្រៅនៃចង្អូរដោយសារតែការផ្លាស់ប្តូរនៅក្នុងថ្នាក់ LIPS ចម្បង (LSFL-I ទៅ LSFL-II) ក្នុងករណីគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា។ដូច្នេះសូមឆ្លើយសំណួរខាងក្រោម៖
ដើម្បីឆ្លើយសំណួរទី 1 វាចាំបាច់ក្នុងការពិចារណាអំពីយន្តការដែលទទួលខុសត្រូវចំពោះការកាត់បន្ថយការ ablation ។សម្រាប់ជីពចរតែមួយក្នុងឧប្បត្តិហេតុធម្មតា ជម្រៅនៃការ ablation អាចត្រូវបានពិពណ៌នាថាជា:
ដែល \(\delta _{\ mathrm {E}}\) គឺជាជម្រៅនៃការជ្រៀតចូលថាមពល \(\Phi\) និង \(\Phi _{\ mathrm {th}}\) គឺជាភាពស្រូបទាញ និងស្ទាត់ជំនាញ Ablation កម្រិត 34 ។
តាមគណិតវិទ្យា ជម្រៅនៃការជ្រៀតចូលថាមពលមានឥទ្ធិពលគុណលើជម្រៅនៃការ ablation ខណៈពេលដែលការផ្លាស់ប្តូរថាមពលមានឥទ្ធិពលលោការីត។ដូច្នេះការផ្លាស់ប្តូរ fluence មិនប៉ះពាល់ដល់ \(\Delta z\) ច្រើនទេ ដរាបណា \(\Phi ~\gg ~\Phi _{\ mathrm {th}}\)។ទោះជាយ៉ាងណាក៏ដោយការកត់សុីដ៏រឹងមាំ (ឧទាហរណ៍ដោយសារការបង្កើតអុកស៊ីដក្រូមីញ៉ូម) នាំឱ្យមានចំណង Cr-O35 កាន់តែខ្លាំងបើប្រៀបធៀបទៅនឹងចំណង Cr-Cr ដោយហេតុនេះបង្កើនកម្រិតនៃការរំលាយ។ដូច្នេះហើយ \(\Phi ~\gg ~\Phi _{\ mathrm {th}}\) លែងពេញចិត្ត ដែលនាំទៅរកការថយចុះយ៉ាងឆាប់រហ័សនៃជំរៅ ablation ជាមួយនឹងការថយចុះដង់ស៊ីតេលំហូរថាមពល។លើសពីនេះទៀតទំនាក់ទំនងរវាងស្ថានភាពអុកស៊ីតកម្មនិងរយៈពេលនៃ LSFL-II ត្រូវបានគេស្គាល់ដែលអាចត្រូវបានពន្យល់ដោយការផ្លាស់ប្តូររចនាសម្ព័ន្ធ nanostructure ខ្លួនវានិងលក្ខណៈសម្បត្តិអុបទិកនៃផ្ទៃដែលបណ្តាលមកពីការកត់សុីលើផ្ទៃ 30,35 ។ដូច្នេះការចែកចាយផ្ទៃពិតប្រាកដនៃលំហូរនៃការស្រូបយក \(\Phi\) គឺដោយសារតែសក្ដានុពលស្មុគស្មាញនៃអន្តរកម្មរវាងរយៈពេលរចនាសម្ព័ន្ធ និងកម្រាស់នៃស្រទាប់អុកស៊ីត។អាស្រ័យលើរយៈពេល រចនាសម្ព័ន្ធ nanostructure មានឥទ្ធិពលយ៉ាងខ្លាំងទៅលើការចែកចាយនៃលំហូរថាមពលដែលស្រូបទាញ ដោយសារតែការកើនឡើងយ៉ាងខ្លាំងនៅក្នុងវាល ការរំភើបនៃប្លាស្មាលើផ្ទៃ ការផ្ទេរពន្លឺដ៏អស្ចារ្យ ឬខ្ចាត់ខ្ចាយ 17,19,20,21។ដូច្នេះ \(\Phi\) មានភាពមិនដូចគ្នាខ្លាំងនៅជិតផ្ទៃ ហើយ \(\delta _ {E}\) ប្រហែលជាមិនអាចមានទៀតទេជាមួយមេគុណស្រូបយកមួយ \(\alpha = \delta _{\ mathrm {opt} } ^ { -1} \approx \delta _{\ mathrm {E}}^{-1}\) សម្រាប់បរិមាណជិតផ្ទៃទាំងមូល។ចាប់តាំងពីកម្រាស់នៃខ្សែភាពយន្តអុកស៊ីដភាគច្រើនអាស្រ័យលើពេលវេលារឹង [26] ឥទ្ធិពលនាមករណ៍អាស្រ័យលើសីតុណ្ហភាពគំរូ។មីក្រូក្រាហ្វអុបទិកដែលបង្ហាញក្នុងរូបភាព S1 នៅក្នុងសម្ភារៈបន្ថែមបង្ហាញពីការផ្លាស់ប្តូរនៅក្នុងលក្ខណៈសម្បត្តិអុបទិក។
ផលប៉ះពាល់ទាំងនេះបានពន្យល់មួយផ្នែកអំពីជម្រៅរណ្តៅរាក់នៅក្នុងករណីនៃរចនាសម្ព័ន្ធផ្ទៃតូចនៅក្នុងរូបភាព 1d,e និង 2b,c និង 3(ii)b,d,f ។
LSFL-II ត្រូវបានគេស្គាល់ថាបង្កើតនៅលើ semiconductors, dielectrics និងវត្ថុធាតុដើមងាយនឹងអុកស៊ីតកម្ម14,29,30,36,37។ក្នុងករណីចុងក្រោយនេះ កម្រាស់នៃស្រទាប់អុកស៊ីតលើផ្ទៃមានសារៈសំខាន់ជាពិសេស30។ការវិភាគ EDX ត្រូវបានអនុវត្តបង្ហាញពីការបង្កើតអុកស៊ីដលើផ្ទៃដែលមានរចនាសម្ព័ន្ធ។ដូច្នេះ សម្រាប់សំណាកដែលមិនបានកំដៅ អុកស៊ីសែនជុំវិញហាក់ដូចជារួមចំណែកដល់ការបង្កើតភាគល្អិតនៃឧស្ម័ន និងផ្នែកខ្លះនៃការបង្កើតអុកស៊ីដលើផ្ទៃ។បាតុភូតទាំងពីរនេះបានរួមចំណែកយ៉ាងសំខាន់ក្នុងដំណើរការនេះ។ផ្ទុយទៅវិញ សម្រាប់គំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា អុកស៊ីដលោហៈនៃរដ្ឋអុកស៊ីតកម្មផ្សេងៗ (SiO\(_{\mathrm {2}}\), Cr\(_{\mathrm {n}} \)O\(_{\mathrm { m}}\ ), Fe\(_{\mathrm {n}}\)O\(_{\mathrm {m}}\), NiO, ល) គឺច្បាស់ 38 ពេញចិត្ត។បន្ថែមពីលើស្រទាប់អុកស៊ីដដែលត្រូវការ វត្តមាននៃភាពរដុបនៃរលករងរលក ជាចម្បង ប្រេកង់ខ្ពស់ LIPSS (HSFL) គឺចាំបាច់ដើម្បីបង្កើតទម្រង់អាំងតង់ស៊ីតេនៃរលករងរង (d-type) 14,30 ។របៀបអាំងតង់ស៊ីតេ LSFL-II ចុងក្រោយគឺជាមុខងារនៃអំព្លីទីត HSFL និងកម្រាស់អុកស៊ីដ។ហេតុផលសម្រាប់របៀបនេះគឺការជ្រៀតជ្រែកឆ្ងាយនៃពន្លឺដែលខ្ចាត់ខ្ចាយដោយ HSFL ហើយពន្លឺបានឆ្លុះចូលទៅក្នុងសម្ភារៈនិងបន្តសាយភាយនៅខាងក្នុងសម្ភារៈ dielectric ផ្ទៃ 20,29,30 ។រូបភាព SEM នៃគែមនៃលំនាំផ្ទៃក្នុងរូបភាព S2 នៅក្នុងផ្នែកសម្ភារៈបន្ថែមគឺបង្ហាញពី HSFL ដែលមានស្រាប់។តំបន់ខាងក្រៅនេះត្រូវបានរងផលប៉ះពាល់ដោយបរិមាត្រនៃការបែងចែកអាំងតង់ស៊ីតេដែលអនុញ្ញាតឱ្យបង្កើត HSFL ។ដោយសារតែស៊ីមេទ្រីនៃការចែកចាយអាំងតង់ស៊ីតេ ឥទ្ធិពលនេះក៏កើតឡើងតាមទិសស្កែនផងដែរ។
កំដៅគំរូប៉ះពាល់ដល់ដំណើរការបង្កើត LSFL-II តាមវិធីជាច្រើន។ម៉្យាងវិញទៀត ការកើនឡើងនៃសីតុណ្ហភាពគំរូ \(T_\mathrm{s}\) មានឥទ្ធិពលខ្លាំងទៅលើអត្រានៃការរឹង និងត្រជាក់ជាងកម្រាស់នៃស្រទាប់រលាយ26។ដូច្នេះ ចំណុចប្រទាក់រាវនៃសំណាកដែលគេឱ្យឈ្មោះថាត្រូវបានប៉ះពាល់ទៅនឹងអុកស៊ីសែនជុំវិញក្នុងរយៈពេលយូរ។លើសពីនេះ ការពង្រឹងភាពយឺតយ៉ាវអនុញ្ញាតឱ្យមានការអភិវឌ្ឍនៃដំណើរការ convective ស្មុគ្រស្មាញដែលបង្កើនការលាយអុកស៊ីត និងអុកស៊ីដជាមួយនឹងដែករាវ26។នេះអាចត្រូវបានបង្ហាញដោយការប្រៀបធៀបកម្រាស់នៃស្រទាប់អុកស៊ីតដែលបង្កើតឡើងដោយការសាយភាយ (\(\Lambda _\mathrm {diff}=\sqrt{D~\times ~t_\mathrm {s}}~\le ~15\) nm) ពេលវេលា coagulation ដែលត្រូវគ្នាគឺ \(t_\mathrm {s}~\le ~200\) ns និងមេគុណសាយភាយ \(D~\le\) 10\(^{-5}\) cm\(^ 2 \ )/ s) កម្រាស់ខ្ពស់ជាងគួរឱ្យកត់សម្គាល់ត្រូវបានគេសង្កេតឃើញឬត្រូវបានទាមទារនៅក្នុងទម្រង់ LSFL-II 30 ។ម្យ៉ាងវិញទៀត ការឡើងកំដៅក៏ប៉ះពាល់ដល់ការបង្កើត HSFL ផងដែរ ហេតុដូច្នេះហើយវត្ថុដែលខ្ចាត់ខ្ចាយដែលតម្រូវឱ្យផ្លាស់ប្តូរទៅជារបៀបអាំងតង់ស៊ីតេ LSFL-II d-type ។ការប៉ះពាល់នៃសារធាតុ nanovoids ដែលជាប់នៅខាងក្រោមផ្ទៃ បង្ហាញពីការចូលរួមរបស់ពួកគេក្នុងការបង្កើត HSFL39។ពិការភាពទាំងនេះអាចតំណាងឱ្យប្រភពដើមអេឡិចត្រូម៉ាញ៉េទិចនៃ HSFL ដោយសារតែលំនាំអាំងតង់ស៊ីតេតាមកាលកំណត់ប្រេកង់ខ្ពស់ដែលត្រូវការ 14,17,19,29 ។លើសពីនេះ របៀបអាំងតង់ស៊ីតេដែលបានបង្កើតទាំងនេះមានឯកសណ្ឋានច្រើនជាងជាមួយនឹងចំនួនដ៏ច្រើននៃ nanovoids19 ។ដូច្នេះហេតុផលសម្រាប់ការកើនឡើងនៃ HSFL អាចត្រូវបានពន្យល់ដោយការផ្លាស់ប្តូរនៅក្នុងថាមវន្តនៃពិការភាពគ្រីស្តាល់នៅពេលដែល \(T_\mathrm{s}\) កើនឡើង។
ថ្មីៗនេះវាត្រូវបានបង្ហាញថាអត្រាត្រជាក់នៃស៊ីលីកុនគឺជាប៉ារ៉ាម៉ែត្រសំខាន់សម្រាប់ supersaturation interstitial ខាងក្នុងហើយដូច្នេះសម្រាប់ការប្រមូលផ្តុំនៃចំណុចខ្វះខាតជាមួយនឹងការបង្កើត dislocations40,41 ។ការក្លែងធ្វើឌីណាមិកម៉ូលេគុលនៃលោហធាតុសុទ្ធ បានបង្ហាញថា កន្លែងទំនេរលើសពីភាពឆ្អែត កំឡុងពេលដំណើរការគ្រីស្តាល់ឡើងវិញយ៉ាងឆាប់រហ័ស ហើយហេតុដូច្នេះហើយការប្រមូលផ្តុំទំនេរនៅក្នុងលោហធាតុដំណើរការក្នុងលក្ខណៈស្រដៀងគ្នា 42,43,44។លើសពីនេះ ការសិក្សាពិសោធន៍ថ្មីៗអំពីប្រាក់បានផ្តោតលើយន្តការនៃការបង្កើតចន្លោះប្រហោង និងចង្កោមដោយសារតែការប្រមូលផ្តុំនៃចំណុចខ្វះខាត 45 ។ដូច្នេះ ការកើនឡើងនៃសីតុណ្ហភាពនៃគំរូ \(T_\mathrm {s}\) ហើយជាលទ្ធផល ការថយចុះនៃអត្រាត្រជាក់អាចប៉ះពាល់ដល់ការបង្កើតចន្លោះប្រហោង ដែលជាស្នូលនៃ HSFL ។
ប្រសិនបើកន្លែងទំនេរគឺជាបុព្វហេតុចាំបាច់សម្រាប់បែហោងធ្មែញ ហើយហេតុដូច្នេះហើយ HSFL សីតុណ្ហភាពគំរូ \(T_s\) គួរតែមានផលប៉ះពាល់ពីរ។ម៉្យាងវិញទៀត \(T_s\) ប៉ះពាល់ដល់អត្រានៃការធ្វើគ្រីស្តាល់ឡើងវិញ ហើយជាលទ្ធផល ការប្រមូលផ្តុំនៃចំណុចខ្វះខាត (កំហាប់ទំនេរ) នៅក្នុងគ្រីស្តាល់ដែលលូតលាស់។ម្យ៉ាងវិញទៀត វាក៏ប៉ះពាល់ដល់អត្រានៃការត្រជាក់បន្ទាប់ពីការរឹងផងដែរ ដោយហេតុនេះប៉ះពាល់ដល់ការសាយភាយនៃចំណុចខ្វះខាតនៅក្នុងគ្រីស្តាល់ 40,41។លើសពីនេះ អត្រានៃការរឹងអាស្រ័យលើការតំរង់ទិសគ្រីស្តាល់ ហើយដូច្នេះវាមានកម្រិត anisotropic ខ្ពស់ ក៏ដូចជាការសាយភាយនៃចំណុចខ្វះខាត 42,43 ។យោងតាមការសន្និដ្ឋាននេះ ដោយសារតែការឆ្លើយតប anisotropic នៃសម្ភារៈ អន្តរកម្មនៃពន្លឺ និងរូបធាតុក្លាយទៅជា anisotropic ដែលនៅក្នុងវេនពង្រីកការបញ្ចេញថាមពលតាមកាលកំណត់នេះ។សម្រាប់វត្ថុធាតុ polycrystalline ឥរិយាបថនេះអាចត្រូវបានកំណត់ដោយទំហំនៃគ្រាប់ធញ្ញជាតិតែមួយ។ជាការពិត ការបង្កើត LIPSS ត្រូវបានបង្ហាញអាស្រ័យលើទិសដៅគ្រាប់ធញ្ញជាតិ 46,47 ។ដូច្នេះ ឥទ្ធិពលនៃសីតុណ្ហភាពគំរូ \(T_s\) លើអត្រាគ្រីស្តាល់ប្រហែលជាមិនខ្លាំងដូចឥទ្ធិពលនៃការតំរង់ទិសគ្រាប់ធញ្ញជាតិនោះទេ។ដូច្នេះ ការតំរង់ទិសគ្រីស្តាល់នៃគ្រាប់ធញ្ញជាតិផ្សេងៗគ្នា ផ្តល់នូវការពន្យល់ដ៏មានសក្តានុពលសម្រាប់ការកើនឡើងនៃការចាត់ទុកជាមោឃៈ និងការប្រមូលផ្តុំនៃ HSFL ឬ LSFL-II រៀងគ្នា។
ដើម្បីបញ្ជាក់ពីការចង្អុលបង្ហាញដំបូងនៃសម្មតិកម្មនេះ គំរូឆៅត្រូវបានឆ្លាក់ដើម្បីបង្ហាញពីការបង្កើតគ្រាប់ធញ្ញជាតិនៅជិតផ្ទៃ។ការប្រៀបធៀបធញ្ញជាតិនៅក្នុងរូបភព។S3 ត្រូវបានបង្ហាញនៅក្នុងសម្ភារៈបន្ថែម។លើសពីនេះទៀត LSFL-I និង LSFL-II បានបង្ហាញខ្លួនជាក្រុមនៅលើគំរូដែលគេឱ្យឈ្មោះថា។ទំហំ និងធរណីមាត្រនៃចង្កោមទាំងនេះត្រូវគ្នាទៅនឹងទំហំគ្រាប់ធញ្ញជាតិ។
លើសពីនេះទៅទៀត HSFL កើតឡើងតែក្នុងជួរតូចចង្អៀតនៅដង់ស៊ីតេលំហូរទាបដោយសារតែប្រភពដើម convective 19,29,48។ដូច្នេះហើយ នៅក្នុងការពិសោធន៍ វាប្រហែលជាកើតឡើងតែនៅបរិវេណនៃទម្រង់ធ្នឹមប៉ុណ្ណោះ។ដូច្នេះ HSFL បានបង្កើតឡើងនៅលើផ្ទៃដែលមិនមានអុកស៊ីតកម្ម ឬអុកស៊ីតកម្មខ្សោយ ដែលបានក្លាយជាជាក់ស្តែងនៅពេលប្រៀបធៀបប្រភាគអុកស៊ីតនៃគំរូដែលបានព្យាបាល និងមិនបានព្យាបាល (សូមមើលតារាង reftab: ឧទាហរណ៍)។នេះបញ្ជាក់ពីការសន្មត់ថាស្រទាប់អុកស៊ីដត្រូវបានបង្កឡើងជាចម្បងដោយឡាស៊ែរ។
ដោយសារការបង្កើត LIPSS ជាធម្មតាពឹងផ្អែកលើចំនួនជីពចរដោយសារមតិប្រតិកម្មអន្តរជីពចរ HSFLs អាចត្រូវបានជំនួសដោយរចនាសម្ព័ន្ធធំជាង ដោយសារការត្រួតស៊ីគ្នានៃជីពចរកើនឡើង 19 ។HSFL មិនសូវទៀងទាត់ បណ្តាលឱ្យមានលំនាំអាំងតង់ស៊ីតេតិចជាងធម្មតា (d-mode) ដែលត្រូវការសម្រាប់ការបង្កើត LSFL-II ។ដូច្នេះនៅពេលដែលការត្រួតស៊ីគ្នានៃ \(o_\mathrm {p}\) កើនឡើង (សូមមើលរូបទី 1 ពី de) ភាពទៀងទាត់នៃ LSFL-II មានការថយចុះ។
ការសិក្សានេះបានស៊ើបអង្កេតពីឥទ្ធិពលនៃសីតុណ្ហភាពស្រទាប់ខាងក្រោមលើរូបវិទ្យាផ្ទៃនៃដែកអ៊ីណុក DLIP ដែលបានព្យាបាលដោយឡាស៊ែរ។វាត្រូវបានគេរកឃើញថាការឡើងកំដៅនៃស្រទាប់ខាងក្រោមពី 21 ទៅ 250 ° C នាំឱ្យមានការថយចុះនៃជម្រៅ ablation ពី 1.75 ទៅ 0.87 µm ក្នុង s-polarization និងពី 2.33 ទៅ 1.06 µm ក្នុង p-polarization ។ការថយចុះនេះគឺដោយសារតែការផ្លាស់ប្តូរប្រភេទ LIPSS ពី LSFL-I ទៅ LSFL-II ដែលត្រូវបានផ្សារភ្ជាប់ជាមួយនឹងស្រទាប់អុកស៊ីដលើផ្ទៃដែលបណ្តាលមកពីឡាស៊ែរនៅសីតុណ្ហភាពគំរូខ្ពស់ជាង។លើសពីនេះ LSFL-II អាចបង្កើនកម្រិតលំហូរចេញដោយសារតែការកើនឡើងអុកស៊ីតកម្ម។វាត្រូវបានគេសន្មត់ថានៅក្នុងប្រព័ន្ធបច្ចេកវិទ្យានេះជាមួយនឹងការត្រួតស៊ីគ្នានៃជីពចរខ្ពស់ដង់ស៊ីតេថាមពលជាមធ្យមនិងអត្រាពាក្យដដែលៗជាមធ្យមការកើតឡើងនៃ LSFL-II ក៏ត្រូវបានកំណត់ដោយការផ្លាស់ប្តូរឌីណាមិកផ្លាស់ទីលំនៅដែលបណ្តាលមកពីកំដៅគំរូ។ការប្រមូលផ្តុំនៃ LSFL-II ត្រូវបានគេសន្មត់ថាបណ្តាលមកពីការបង្កើត nanovoid ដែលពឹងផ្អែកលើការតំរង់ទិសគ្រាប់ធញ្ញជាតិ ដែលនាំឱ្យ HSFL ជាបុព្វហេតុនៃ LSFL-II ។លើសពីនេះទៀតឥទ្ធិពលនៃទិសដៅនៃបន្ទាត់រាងប៉ូលលើរយៈពេលរចនាសម្ព័ន្ធនិងកម្រិតបញ្ជូននៃអំឡុងពេលរចនាសម្ព័ន្ធត្រូវបានសិក្សា។វាប្រែថា p-polarization មានប្រសិទ្ធភាពជាងសម្រាប់ដំណើរការ DLIP នៅក្នុងលក្ខខណ្ឌនៃជម្រៅ ablation ។សរុបមក ការសិក្សានេះលាតត្រដាងនូវសំណុំនៃប៉ារ៉ាម៉ែត្រដំណើរការដើម្បីគ្រប់គ្រង និងបង្កើនប្រសិទ្ធភាពជម្រៅនៃ DLIP ablation ដើម្បីបង្កើតលំនាំផ្ទៃតាមតម្រូវការ។ជាចុងក្រោយ ការផ្លាស់ប្តូរពី LSFL-I ទៅ LSFL-II ត្រូវបានជំរុញដោយកំដៅទាំងស្រុង ហើយការកើនឡើងតិចតួចនៃអត្រាពាក្យដដែលៗត្រូវបានរំពឹងទុកជាមួយនឹងការត្រួតគ្នានៃជីពចរថេរដោយសារតែការកើនឡើងកំដៅ 24 ។ទិដ្ឋភាពទាំងអស់នេះគឺពាក់ព័ន្ធទៅនឹងបញ្ហាប្រឈមនាពេលខាងមុខនៃការពង្រីកដំណើរការ DLIP ឧទាហរណ៍តាមរយៈការប្រើប្រាស់ប្រព័ន្ធស្កេនពហុកោណ49។ដើម្បីកាត់បន្ថយការឡើងកំដៅ យុទ្ធសាស្ត្រខាងក្រោមអាចត្រូវបានអនុវត្ត៖ រក្សាល្បឿនស្កេនរបស់ម៉ាស៊ីនស្កែនពហុកោណឱ្យខ្ពស់តាមដែលអាចធ្វើទៅបាន ទាញយកអត្ថប្រយោជន៍ពីទំហំកន្លែងឡាស៊ែរធំជាង តម្រៀបតាមទិសទៅទិសស្កែន និងប្រើការបំប្លែងដ៏ល្អប្រសើរ។ភាពស្ទាត់ជំនាញ 28. លើសពីនេះ គំនិតទាំងនេះអនុញ្ញាតឱ្យបង្កើតសណ្ឋានឋានានុក្រមស្មុគស្មាញសម្រាប់មុខងារផ្ទៃកម្រិតខ្ពស់ដោយប្រើ DLIP ។
នៅក្នុងការសិក្សានេះ បន្ទះដែកអ៊ីណុកដែលធ្វើពីដែកអ៊ីណុក (X5CrNi18-10, 1.4301, AISI 304) កម្រាស់ 0.8 ម.ដើម្បីលុបភាពកខ្វក់ចេញពីផ្ទៃ គំរូត្រូវបានលាងសម្អាតដោយប្រុងប្រយ័ត្នជាមួយនឹងអេតាណុលមុនពេលធ្វើការព្យាបាលដោយឡាស៊ែរ (កំហាប់ដាច់ខាតនៃអេតាណុល \(\ge\) 99.9%) ។
ការកំណត់ DLIP ត្រូវបានបង្ហាញក្នុងរូបភាពទី 4 ។ គំរូត្រូវបានសាងសង់ដោយប្រើប្រព័ន្ធ DLIP ដែលបំពាក់ដោយប្រភពឡាស៊ែរ 12 ps ultrashort pulsed ដែលមានរលកប្រវែង 532 nm និងអត្រាពាក្យដដែលៗអតិបរមា 50 MHz ។ការចែកចាយលំហនៃថាមពលធ្នឹមគឺ Gaussian ។អុបទិកដែលបានរចនាជាពិសេសផ្តល់នូវការកំណត់រចនាសម្ព័ន្ធ interferometric ពីរធ្នឹម ដើម្បីបង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធលីនេអ៊ែរនៅលើគំរូ។កែវថតដែលមានប្រវែងប្រសព្វ 100 មីលីម៉ែត្រ ដាក់លើកាំរស្មីឡាស៊ែរពីរបន្ថែមទៀតលើផ្ទៃនៅមុំថេរនៃ 6.8\(^\circ\) ដែលផ្តល់រយៈពេលចន្លោះប្រហែល 4.5 µm ។ព័ត៌មានបន្ថែមអំពីការរៀបចំការពិសោធន៍អាចរកបាននៅកន្លែងផ្សេងទៀត 50 ។
មុនពេលដំណើរការឡាស៊ែរគំរូត្រូវបានដាក់នៅលើចានកំដៅនៅសីតុណ្ហភាពជាក់លាក់មួយ។សីតុណ្ហភាពនៃចានកំដៅត្រូវបានកំណត់នៅ 21 និង 250 ° C ។នៅក្នុងការពិសោធន៍ទាំងអស់ យន្តហោះប្រតិកម្មឆ្លងកាត់នៃខ្យល់ដែលបានបង្ហាប់ត្រូវបានប្រើរួមគ្នាជាមួយឧបករណ៍ផ្សង ដើម្បីការពារការធ្លាក់ធូលីនៅលើអុបទិក។ប្រព័ន្ធដំណាក់កាល x,y ត្រូវបានបង្កើតឡើងដើម្បីកំណត់ទីតាំងគំរូកំឡុងពេលរៀបចំរចនាសម្ព័ន្ធ។
ល្បឿននៃប្រព័ន្ធកំណត់ទីតាំងត្រូវបានផ្លាស់ប្តូរពី 66 ទៅ 200 មីលីម៉ែត្រ / វិនាទី ដើម្បីទទួលបានការត្រួតស៊ីគ្នារវាងជីពចរពី 99.0 ទៅ 99.67 \(\%\) រៀងគ្នា។ក្នុងគ្រប់ករណីទាំងអស់ អត្រាពាក្យដដែលៗត្រូវបានជួសជុលនៅ 200 kHz ហើយថាមពលជាមធ្យមគឺ 4 W ដែលផ្តល់ថាមពលក្នុងមួយជីពចរនៃ 20 μJ។អង្កត់ផ្ចិតធ្នឹមដែលប្រើក្នុងការពិសោធន៍ DLIP គឺប្រហែល 100 µm ហើយដង់ស៊ីតេថាមពលឡាស៊ែរខ្ពស់បំផុតគឺ 0.5 J/cm\(^{2}\)។ថាមពលសរុបដែលបានបញ្ចេញក្នុងមួយឯកតាគឺកម្រិតកំពូលនៃលំហូរដែលត្រូវគ្នាទៅនឹង 50 J/cm\(^2\) សម្រាប់ \(o_{\mathrm {p}}\) = 99.0 \(\%\), 100 J/cm \(^2\) សម្រាប់ \(o_{\mathrm {p))\)=99.5\(\%\) និង 150 J/cm\(^2\) សម្រាប់ \(o_{ \mathrm {p} }\ ) = 99.67 \(\%\) ។ប្រើចាន \(\lambda\)/2 ដើម្បីផ្លាស់ប្តូរបន្ទាត់រាងប៉ូលនៃកាំរស្មីឡាស៊ែរ។សម្រាប់សំណុំនៃប៉ារ៉ាម៉ែត្រនីមួយៗដែលបានប្រើ ផ្ទៃប្រហែល 35 × 5 mm\(^{2}\) ត្រូវបានវាយនភាពលើគំរូ។ការពិសោធន៍ដែលមានរចនាសម្ព័ន្ធទាំងអស់ត្រូវបានធ្វើឡើងក្រោមលក្ខខណ្ឌជុំវិញ ដើម្បីធានាបាននូវការអនុវត្តឧស្សាហកម្ម។
សរីរវិទ្យានៃគំរូត្រូវបានពិនិត្យដោយប្រើមីក្រូទស្សន៍បង្រួមជាមួយនឹងការពង្រីក 50x និងដំណោះស្រាយអុបទិកនិងបញ្ឈរនៃ 170 nm និង 3 nm រៀងគ្នា។បន្ទាប់មកទិន្នន័យសណ្ឋានដីដែលបានប្រមូលត្រូវបានវាយតម្លៃដោយប្រើកម្មវិធីវិភាគផ្ទៃ។ស្រង់ទម្រង់ពីទិន្នន័យដីយោងទៅតាម ISO 1661051។
សំណាកគំរូក៏ត្រូវបានកំណត់លក្ខណៈដោយប្រើមីក្រូទស្សន៍អេឡិចត្រុងស្កែននៅវ៉ុលបង្កើនល្បឿន 6.0 kV ។សមាសធាតុគីមីនៃផ្ទៃនៃសំណាកត្រូវបានវាយតម្លៃដោយប្រើឧបករណ៍ភ្ជាប់កាំរស្មីអ៊ិចបែកខ្ចាត់ខ្ចាយថាមពល (EDS) នៅតង់ស្យុងបង្កើនល្បឿន 15 kV ។លើសពីនេះ មីក្រូទស្សន៍អុបទិកដែលមានគោលបំណង 50x ត្រូវបានប្រើដើម្បីកំណត់ morphology granular នៃ microstructure នៃគំរូ។ មុននោះ សំណាកត្រូវបានឆ្លាក់នៅសីតុណ្ហភាពថេរនៃ 50 \(^\circ\)C រយៈពេលប្រាំនាទីនៅក្នុងស្នាមប្រឡាក់ដែកអ៊ីណុកដែលមានអាស៊ីត hydrochloric និងកំហាប់អាស៊ីតនីទ្រីកនៃ 15-20 \(\%\) និង 1\( -<\)5 \(\%\) រៀងគ្នា។ មុននោះ សំណាកត្រូវបានឆ្លាក់នៅសីតុណ្ហភាពថេរនៃ 50 \(^\circ\)C រយៈពេលប្រាំនាទីនៅក្នុងស្នាមប្រឡាក់ដែកអ៊ីណុកដែលមានអាស៊ីត hydrochloric និងកំហាប់អាស៊ីតនីទ្រីកនៃ 15-20 \(\%\) និង 1\( -<\)5 \(\%\) រៀងគ្នា។ Перед этим образцы травили при постоянной температуре 50 \(^\circ\)С в течение пяти минут в краске в крайске ой и азотной кислотами концентрацией 15-20 \(\%\) និង 1\(-<\)5 \( \%\) сответственно ។ មុននោះ សំណាកត្រូវបានឆ្លាក់នៅសីតុណ្ហភាពថេរនៃ 50 \(^\circ\)C រយៈពេលប្រាំនាទីក្នុងថ្នាំលាបដែកអ៊ីណុកជាមួយនឹងអាស៊ីត hydrochloric និង nitric ជាមួយនឹងកំហាប់ 15-20 \(\%\) និង 1\( -<\)5 \(\%\) រៀងគ្នា។在此之前，样品在不锈钢染色液中以50 \(^\circ\)C的恒温蚀刻五分钟，盐酸和硝馅浓< \\) ៥ \\ (\%\), 分别។在此之前，样品在不锈钢染色液中以50 \(^\circ\)C (\%\)，分别។មុននោះ សំណាកត្រូវបានរើសរយៈពេលប្រាំនាទីនៅសីតុណ្ហភាពថេរនៃ 50 \(^\circ\)C នៅក្នុងដំណោះស្រាយស្នាមប្រឡាក់សម្រាប់ដែកអ៊ីណុកជាមួយនឹងកំហាប់នៃអាស៊ីត hydrochloric និង nitric 15-20 \(\%\) និង 1 \.(-<\)5 \ (\%\) сответственно ។ (-<\)5 \ (\%\) រៀងគ្នា។
ដ្យាក្រាមគ្រោងការណ៍នៃការរៀបចំការពិសោធន៍នៃការដំឡើង DLIP ពីរធ្នឹម រួមទាំង (1) កាំរស្មីឡាស៊ែរ (2) ចាន \(\lambda\)/2 (3) ក្បាល DLIP ជាមួយនឹងការកំណត់រចនាសម្ព័ន្ធអុបទិកជាក់លាក់ (4) ) ចានក្តៅ (5) វត្ថុរាវឆ្លងកាត់ , (6) x, y ជំហានកំណត់ទីតាំង និង (7) សំណាកដែកអ៊ីណុក។ធ្នឹមត្រួតលើគ្នាពីរ ដែលគូសរង្វង់ពណ៌ក្រហមនៅខាងឆ្វេង បង្កើតរចនាសម្ព័ន្ធលីនេអ៊ែរនៅលើគំរូនៅមុំ \(2\theta\) (រួមទាំង s- និង p-polarization) ។
សំណុំទិន្នន័យដែលបានប្រើ និង/ឬវិភាគក្នុងការសិក្សាបច្ចុប្បន្នអាចរកបានពីអ្នកនិពន្ធរៀងៗខ្លួនតាមការស្នើសុំសមហេតុផល។
ពេលវេលាផ្សាយ៖ មករា-០៧-២០២៣